죄송합니다. 더 이상 지원되지 않는 웹 브라우저입니다.

EPC, 15단계 GaN 신뢰성 보고서를 통해 실제 애플리케이션에서 GaN 디바이스의 수명 예측

EPC(Efficient Power Conversion)는 GaN 디바이스의 신뢰성 및 미션 견고성에 대한 새로운 방대한 정보를 제공하는 15단계 신뢰성 보고서를 발표했다. EPC는 결함 테스트(Test-to-Fail) 방법론을 이용한 지속적인 연구 작업을 문서화한 15단계 신뢰성 보고서(Phase-15 Reliability Report)를 발표했다. 이 보고서에는 태양광 옵티마이저와 라이다 센서 및 DC-DC 컨버터를 비롯해 실제 애플리케이션에서 수행된 특정 신뢰성 지표와 예측 정보 등이 포함되어 있다.

이 보고서는 eGaN 디바이스를 결함 지점까지 테스트한 결과를 통해 디바이스의 본질적 결함 메커니즘을 식별할 수 있는 정보를 제공한다. 이러한 본질적 결함 메커니즘을 식별함으로써 보다 일반적인 일련의 동작 조건에서 제품의 안전한 동작 수명을 정확하게 예측할 수 있는 물리 기반 모델을 생성할 수 있다. 이는 실제 경험에서 얻은 정보를 바탕으로 특정 애플리케이션의 미션 견고성을 판단할 수 있다. 

이 보고서는 9개의 섹션으로 구성되어 있으며, 각기 다른 결함 메커니즘 또는 애플리케이션 사례를 다루고 있다:

섹션 1: 게이트의 전압/온도 스트레스 

섹션 2: 드레인의 전압/온도 스트레스

섹션 3: 안전 동작 영역(SOA: Safe Operating Area)

섹션 4: 단락 견고성 테스트 

섹션 5: 기계적 스트레스 테스트

섹션 6: 열-역학적 스트레스

섹션 7: 장기적인 라이다 펄스 스트레스 조건에 대한 신뢰성 테스트 결과 

섹션 8: 태양광 애플리케이션에서 eGaN 디바이스가 25년 이상 지속할 수 있는 방법을 정확하게 예측하기 위해 결함 테스트(Test-to-Fail) 방법론 사용 

섹션 9: 실제 DC-DC 컨버터 사례에 물리 기반 모델 적용

EPC의 공동창립자이자 CEO인 알렉스 리도우(Alex Lidow) 박사는 “EPC의 15단계 신뢰성 보고서는 실험실에서 파생된 데이터를 확인하거나 미션 견고성에 대한 새로운 의문점을 파악하기 위해 실제 상황에 기초한 정보를 담고 있으며, 이를 통해 광범위한 스트레스 조건에서 GaN 디바이스의 동작을 보다 심층적으로 이해할 수 있다.”고 밝혔다.

EPC 소개
EPC는 2007년 11월에 고급 전력 관리 기술 분야에서 총 60년의 경험을 가진 세 명의 엔지니어에 의해 설립되었습니다. EPC의 CEO인 Alex Lidow는 1970년대 실리콘 전력 MOSFET의 공동 발명가였습니다. R&D 및 제조 직책 외에도 12년 동안 International Rectifier의 CEO였습니다. 시간이 지남에 따라 EPC의 창립자들은 실리콘이 성능 한계에 도달하여 우리가 익숙해진 속도로 혁신을 추진하지 못한다는 사실을 분명히 알게 되었습니다. EPC는 비교할 수 없는 속도, 효율성 및 낮은 비용으로 인해 GaN이 전력 발전에서 실리콘의 필연적인 후계자가 될 것이라는 선견지명으로 설립되었습니다. 실제로 GaN은 실리콘에 비해 1000:1 정도의 성능 이점을 가능하게 하는 우수한 결정 특성을 가지고 있습니다.