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한국NI, SEMICON KOREA 2016에서 반도체 테스트 비용을 절감하는 통합 솔루션 공개

한국내쇼날인스트루먼트(www.ni.com/korea, 이하 한국NI)는 오는 1월 27일부터 29일까지 서울 코엑스(COEX)에서 개최되는 ‘SEMICON KOREA 2016’에 참가하여 테스트 비용을 절감할 수 있는 반도체 개발·검증·테스트·양산 통합 솔루션과 데모를 선보인다고 밝혔다.

한국NI는 R&D 레벨에서의 반도체 테스트(Characterization Test)에서 부터 양산용 반도체 테스트(Production Test)에 이르기까지 반도체 테스트 전반에 걸친 솔루션을 이번 세미콘 코리아 2016에서 선보일 예정이다.

특히 반도체 테스트 비용을 절감할 수 있는 솔루션 중 하나인 NI STS(Semiconductor Test System)는 반도체 양산 환경에서 사용할 수 있으며 기존의 대형 ATE 보다 작은 작업 공간에서 사용 가능하며 전력 소모량과 유지보수 노력이 줄어들기 때문에 테스트 비용을 절약할 수 있다는 장점이 있다. 또한, 비용 최적화된 고성능 테스트가 가능하기에 최근 이슈가 많은 RF 파워 앰프(RF Power Amplifier), 전력 반도체(PMIC, DC-DC 컨버터)등과 같은 RF/아날로그 중심 반도체의 RF 및 혼합 신호 테스트에 이상적이다. 아울러, 최근 IoT 디바이스들의 수요 증가와 함께, 각 디바이스 내의 다양한 무선 통신 규격(Wifi, Bluetooth, ZigBee, Zwave 등)을 동시에 테스트 할 수 있는 NI WTS(Wireless Test System)도 선보일 예정이다.

한국NI 반도체 테스트 솔루션 담당 권순묵 대리는 “본 부스에서는 NI STS와 PXI의 효율성을 확인할 수 있다”고 말하며, 이번 세미콘 코리아 2016의 한국 NI부스에서 고객이 전 산업에 걸친 반도체 테스트 장비를 확인하고 비용을 절감할 수 있는 방법을 확인하길 바란다”고 덧붙였다.

한편, 한국NI의 부스(코엑스 3층 D홀 6101)에서는 전문 어플리케이션 엔지니어의 데모 시연, 이벤트 및 제품 상담이 함께 진행될 예정이다.

제품에 대한 보다 자세한 사항은 한국NI 홈페이지 http://www.ni.com/korea/sts 에서 확인할 수 있다.