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EPC, GaN 전력 디바이스의 신뢰성 테스트

오늘날의 태양광 패널은 점점 더 높은 전력 밀도와 더 긴 동작 수명을 요구하고 있습니다. 마이크로 인버터가 내장된 파워 옵티마이저(Power Optimizer)와 패널을 비롯한 태양광 애플리케이션은 점점 더 많은 태양광 고객들에게 보편화되고 있습니다. GaN(Gallium Nitride) 전력 트랜지스터와 IC는 태양광 발전 시스템을 더 작고, 더 차가우며, 더 효율적이고, 더 안정적으로 만들 수 있는 솔루션을 제공합니다. 또한 일반적으로 태양광 설비는 25년 이상 안정적으로 운영되어야 합니다. 이번 웨비나에서는 태양광 애플리케이션에서 25년을 초과할 수 있는 잠재력을 입증한 eGaN 디바이스의 수명을 정확하게 예측하기 위해TTF(Test-to-Fail) 방법론을 활용한 선도적인 접근방식을 자세히 살펴볼 것입니다.

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